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TC-Wafer校准仪

TC-wafer校准仪-产品图-含设备箱

一、TC-Wafer产品简介及用途

TC-Wafer校准仪,是一款专注晶圆温场均匀性测量的仪器。

适配市场上如JouleYacht,德国UNITEMP、韩国ULTECH、法国ANNEALSYS、日本ADVANCE等大多数主流厂家生产的RTP设备。

二、TC-Wafer性能特点

测温准确:温度偏差在±1.1℃以内、采集周期为200ms,能准确测量晶圆温场均匀性;

使用便捷:仪器集成度高,即插即用。测试记录完整数据,并能自动生成测试报告,支持U盘、蓝牙、无线网络等多种方式导出数据和报告;

显示直观:最多支持20路实时测量(20路以上可定制),显示实时点位图及温度分布图,可在使用过程中实时观察各点温度变化;

功能强大:10000条历史数据存储量,能以图表形式调阅历史温度和均匀性数据。可做同一台设备不同时间段、以及不同设备同一配方的数据对比;

便携易维护:便携一体化设计,配备磁吸支架可贴靠于RTP表面, Type-C接口65W速充,可迅速更换TC-wafer。

三、TC-Wafer主要技术参数

项目

TC-20

TC-10

使用范围

室温~ 1500℃(更高温可定制)

晶圆尺寸

6吋 ~12吋

2吋 ~12

热电偶测温点数

1 ~ 20

1 ~ 10

热电偶类型

K型

支持热电偶类型

J型、K型、T型、E型、R型、S型、B型、N型

屏幕

13寸、分辨率:2880*1920

10寸、分辨率:1920*1280

数据采集速率

100ms ~ 450ms

四、TC-Wafer应用功能

半导体制造工艺调校

RTP设备的测试、验证

TC-Wafer的测试、验证

相关晶圆热处理设备的测试、验证,如CVD,PVD,Photo,等等

五、应用案例展示

六、产品视频展示

这里传个视频或其他想展示的内容

七、合作高校展示

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八、企业实力

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