薄膜热导率测试系统 TCT 是采用 3ω测试方法,利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量,可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发,其涵盖范围包括集成电路散热材料、热阻材料、热电材料、信息存储与光电材料等。
采用3ω测试方法,利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率
不直接测量温度变化,而是通过测量材料在导热过程中温度的变化转换为电信号的变化,来实现微/纳米薄膜材料的热导率测试
采用交流电加热方式,同时选择并优化设计加热电极的形状与尺寸,可确保加热均匀性及测试应用的广泛性
待测薄膜样品材料尺寸极小,所以能有效减小黑体辐射引起的测量误差
高精度数字源表并结合锁相放大技术,保证测量结果的准确性
优化的加热电极的形状与尺寸设计,可保证加热均匀性及测试应用的稳定性
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设备型号 | TCT-3RT | TCT-3 |
温度范围 | 室温 | 室温-500K |
测量范围 | 0.1-10W/(m•K) | |
测量精度 | ≤±5%(Si衬底) ≤±10%(其他衬底) | |
测试气氛 | 真空 | |
样品尺寸 | 长度:5mm-10mm 宽度:5mm-10mm 薄膜厚度:≥10nm |
TCT广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发,其涵盖范围包括高等院校及科研院所、集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。
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