薄膜热电参数测试系统MRS
一、产品简介及用途
热电材料是一种新型的优质的功能材料，具有体积小、重量轻、无任何机械噪音、不造成任何环境污染等众多优点，常用来制备发电系统或制冷系统。为了进一步提高热电材料的转化效率（热电优值），对其研究从块体慢慢转移到薄膜材料。
薄膜热电参数测试系统 MRS ，是专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
二、性能特点
专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量；
采用动态法测量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确；
采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠；
采用微伏级别电压表，获得的测试参数更加精确；
可针对客户实际测试需求提供样品载台及腔室的定制化服务；
卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率；
友好的软件系统，自动进行测试，并保存数据；
……
三、主要技术参数
设备型号 | MRS-3 |
控温精度 | ±0.1K（样品温度，稳定后） |
最大升温速率 | 30K/min |
测量范围 | Seebeck系数: |S|≥8µV/K |
电阻率：0.1µΩ•m-106µΩ•m | |
相对误差 | Seebeck系数：≤±7% |
电阻率： ≤±10% | |
测量精度 | Seebeck系数：0.05µV/K |
电阻率：0.05μΩ•m | |
样品尺寸 | 长：10mm~18mm； 宽：2mm~7mm 厚：50nm~2mm |
测试气氛 | 真空 |
真空度 | ≤10Pa |
四、应用功能
热电参数测试系统MRS系列主要是用于测试薄膜热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
五、应用案例展示
六、视频展示
这里传个视频或其他想展示的内容
